實驗室簡介

礦物學是所有地球科學領域的基礎，地球物質的元素分化和循環作用，及地球物理性質的解釋基礎和模式建立，最終都要吻合礦物學證據和原理，然而天然礦物的形成和轉變常發生在難以觀測的微觀尺度，而這些微觀變化卻常是隱含著環境變遷和物質性質變異的訊息。例如電子顯微鏡研究揭露岩石中帶磁礦物的形成時點，協助探討以古地磁方向推測地體單元位置或地質作用年代之爭議；又如沉積物或變質岩中稀土礦物細微顆粒的鑑定，使得許多與成岩或變質作用相關的稀土元素分化或放射性同位素定年必須重新解釋；再如許多礦物之微組構特性、相轉變、有序－無序化、凝析作用或其他物理或化學現象，可以微觀晶體結構、組構和成份分析，揭露其成因和機制，使得探討地質材料之形成和演化歷史成為可能。另一方面，天然微奈米粒子的特殊性質對地球及環境科學研究的衝擊亦日益顯著，能否鑑定它們的存在、分析它們的特性、瞭解它們在地球物理、化學作用中的行為及解析它們在自然環境中扮演的角色，可能是未來研究能否產生衝擊或突破的關鍵差異，對新材料的發現和應用也潛藏著契機。

本實驗室所建置維護之Ｘ光繞射儀、掃瞄式電子顯微鏡、穿透式電子顯微鏡及相關設施可用於高解析度晶體構造、微組構和化學成份分析，促進瞭解礦物、合成晶相或非晶相之微觀特性、生成與轉變，以探討其於地球物理、地球化學或其他領域之潛在意義與應用。期望能協助應用於多方面研究，或共同交流學習與促成合作。

1. 主持人：
   江威德　教授
   國立成功大學地球科學系
   06-2757575-65437
   atwtj@mail.ncku.edu.tw
2. 研究方向：
   a. 地球物質之Ｘ光及電子顯微組構特性
   b. 礦物自生作用與轉變
   c. 礦物之物質吸附行為
3. 主要儀器設備：
   A. 高解析度掃瞄式電子顯微鏡（FEI Quanta 250FEG SEM）
   B. 掃瞄式電子顯微鏡及附屬設備（JEOL JSM-840A SEM）
   C. 穿透式電子顯微鏡及附屬設備（FEI Tecnai 20 G2 Super-Twin TEM）
   D. 多功能Ｘ光繞射儀 (Bruker D8 Advance XRD)
   E. Ｘ光粉末繞射儀 (Rigaku XRD)
4. 網頁：http://minlab.earth.ncku.edu.tw/